表面深度分布及元素分析的重要手段(GD-OES)—材料實(shí)驗(yàn)室研究級(jí)、高分辨率輝光放電光譜儀-德國(guó)SPECTRUMAGDA650HR正式落戶DFG技術(shù)中心。SPECTRUMAGDA650HR汽車車身及部件的損壞主要有事故損壞、磨損損壞、腐蝕損...

金屬分析的真正革命——世界*CMOS探測(cè)器（互補(bǔ)金屬氧化物）的直讀光譜儀正式安裝日前，富士和機(jī)械工業(yè)（湖北）有限公司安裝了CMOS探測(cè)器的德國(guó)斯派克SPECTROLAB直讀光譜儀，為該司熔煉鑄造工藝保駕護(hù)航。富士和公司是中國(guó)臺(tái)灣六和機(jī)械股份...

近日，受某供水所的邀請(qǐng)，我司攜德國(guó)斯派克手持式分析儀現(xiàn)場(chǎng)對(duì)供水管道和鋼材進(jìn)行了檢測(cè)，看這些材料是否達(dá)標(biāo)準(zhǔn)！供水所現(xiàn)場(chǎng)圖片！我司工程師現(xiàn)場(chǎng)使用手持式光譜儀對(duì)原材料進(jìn)行分析，快速判斷材料材質(zhì)。廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司（原廣州市儀德科學(xué)儀...

德國(guó)斯派克分析儀器公司SPECTRO全新研發(fā)的垂直同步雙觀測(cè)（DSOI）技術(shù)為提升ICP-OES的靈敏度提供了一種全新的解決方案。采用該技術(shù)解決了等離子體觀測(cè)的核心問題，靈敏度是傳統(tǒng)垂直觀測(cè)等離子體儀器的數(shù)倍，性能價(jià)格比優(yōu)異。SPECTRO...

X射線熒光光譜分析技術(shù)(XRF)是利用X射線與物質(zhì)產(chǎn)生的X射線熒光而進(jìn)行的元素分析方法,采用探測(cè)器檢測(cè)特征X射線熒光的能量和強(qiáng)度,從而實(shí)現(xiàn)定性和定量分析。X射線熒光光譜分析具有快速、多元素分析、制樣簡(jiǎn)單、重現(xiàn)性好、準(zhǔn)確度高、非破壞性和對(duì)環(huán)境...

來源：分析測(cè)試百科網(wǎng)我國(guó)學(xué)者對(duì)不同時(shí)期WDXRF的進(jìn)展曾予以評(píng)述。WDXRF譜儀從儀器光路結(jié)構(gòu)來看，依然是建立在布拉格定律基礎(chǔ)之上，但儀器面目全新?？v觀30年來的發(fā)展軌跡，可總結(jié)出如下特點(diǎn)。(1)現(xiàn)代控制技術(shù)的應(yīng)用使儀器精度大幅度提升。WD...